試驗程序及方法
時間:2013-09-12 21:33 來源:正航儀器 作者:網絡工作組
試驗程序及方法
通常,地面設備用的電子元器件進行較低等級的試驗;航空電子設備用的元器件進行 較高等級的試驗;而特殊要求的產品則進行更高等級的試驗。有關標準規定：
①低溫按有關標準規定在低溫等級表3. 2. 2中選定一個溫度。
②髙溫按有關標準規定在高溫等級表3. 2. 4中選定一個溫度。
③高溫、低溫下保持時間分別為30分鐘。
④轉換時間為15分鐘。
⑤循環次數按有關標準規定3次或5次。
一次循環的過程為圖3. 2. 2所示。圖中：TA為低溫 值?山為高、低溫下保持時間；Tb為高溫值仏為轉換時 間;T。為室溫值;A為次循環的起點。
有時，將轉換時間G小于3分鐘的溫度循環試驗稱為 溫度沖擊試驗。
半導體三級管的溫度循環試驗是將非工作狀態的半 導體三級管先后置于低溫和高溫箱中,共進行5次循環，
通常,地面設備用的電子元器件進行較低等級的試驗;航空電子設備用的元器件進行 較高等級的試驗;而特殊要求的產品則進行更高等級的試驗。有關標準規定：
①低溫按有關標準規定在低溫等級表3. 2. 2中選定一個溫度。
②髙溫按有關標準規定在高溫等級表3. 2. 4中選定一個溫度。
③高溫、低溫下保持時間分別為30分鐘。
④轉換時間為15分鐘。
⑤循環次數按有關標準規定3次或5次。
一次循環的過程為圖3. 2. 2所示。圖中：TA為低溫 值?山為高、低溫下保持時間；Tb為高溫值仏為轉換時 間;T。為室溫值;A為次循環的起點。
有時，將轉換時間G小于3分鐘的溫度循環試驗稱為 溫度沖擊試驗。
半導體三級管的溫度循環試驗是將非工作狀態的半 導體三級管先后置于低溫和高溫箱中,共進行5次循環，
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